GRGT는 중국에서 AEC-Q100, AEC-Q101, AECQ102, AECQ103, AEC-Q104, AEC-Q200 적격성 평가 보고서를 완벽하게 발급할 수 있는 유일한 제3자 계측 및 시험 기관으로서, 권위 있고 신뢰할 수 있는 일련의 AEC-Q 신뢰성 시험 보고서를 발급해 왔습니다. 또한, GRGT는 반도체 업계에서 10년 이상의 경력을 보유한 전문가 팀을 보유하고 있어 AEC-Q 검증 과정에서 발생한 불량 제품을 분석하고, 불량 메커니즘에 따라 기업의 제품 개선 및 업그레이드를 지원할 수 있습니다.
집적 회로, 이산 반도체, 광전자 반도체, MEMS 장치, MCM, 저항기, 커패시터, 인덕터 및 수정 발진기를 포함한 수동 전자 부품
IC를 위한 AEC-Q100은 주로
BJT, FET, IGBT, PIN 등에 대한 AEC-Q101
LED, LD, PLD, APD 등에 대한 AEC-Q102
MEMS 마이크, 센서 등에 대한 AEC-Q103
멀티칩 모델 등의 경우 AEC-Q104
AEC-Q200 저항기, 커패시터, 인덕터 및 수정 발진기 등
테스트 유형 | 테스트 항목 |
매개변수 테스트 | 기능 검증, 전기적 성능 매개변수, 광학적 매개변수, 열 저항, 물리적 치수, 눈사태 내성, 단락 특성 등. |
환경 스트레스 테스트 | 고온 작동 수명, 고온 역 바이어스, 고온 게이트 바이어스, 온도 사이클링, 고온 보관 수명, 저온 보관 수명, 오토클레이브, 고속 가속 스트레스 테스트, 고온 고습 역 바이어스, 습식 고온 온도 작동 수명, 저온 작동 수명, 펄스 수명, 간헐적 작동 수명, 전원 온도 사이클링, 등가속도, 진동, 기계적 충격, 낙하, 미세 및 총 누출, 염분 분무, 이슬, 황화수소, 혼합 가스 흐름 등. |
공정 품질 평가 | 파괴적 물리적 분석, 단자 강도, 용매 저항성, 납땜 열 저항성, 납땜성, 와이어 본드 전단, 와이어 본드 당김, 다이 전단, 무연 시험, 가연성, 난연성, 보드 플렉스, 빔 하중 등. |
정전기 방전 | 정전기 방전 인체 모델, 정전기 방전 대전 소자 모델, 고온 래치업, 실온 래치업 |